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Semishare SX-12（SX Series）是一款集成了电学、光波、微波、等测试功能的半自动探针台，专业应对 12寸Wafer (向下兼容8寸，6寸）Si，GaN，SiC等各类材质的先进芯片的性能测试。可对晶圆、MEMS、生物结 构、光电器件以及其他集成电路、LED、LCD、太阳能电池等进行7*24全天候在片探测，并可加载温控系统，满足 客户于高低温环境下的各种性能测试要求。 Semishare SX-12(SX系列）半自动高低温探针台是在-60-200℃环境下通过探针或探针卡点测样品pad电 极,通过连接测试仪器加载和测量电学信号，并在软件端对电学信号进行控制、判断与存储，并将判断信息反馈 至喷墨系统，对次品芯片（die）进行打点标记，其中，标记方式可根据客户要求设定。在一个芯片（die）测试 完成后，通过软件控制系统将chuck机械平台移动至下一个待测芯片（die），依次进行循环测试。
设备⽤途&功能 SX-12 4 SX-12 设备可配备相应的仪器仪表，对各类元器件、Wafer等进行I-V、C-V、光信号、RF、1/f噪声等进行特性分 析，是一款综合型多功能半自动探针台，并可根据需要，进行客制化技术指标设定，匹配客户通用设备要求。
