发光二极管 TOF次测试控制系统T3000

飞行时间法（TOF）测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键，T3000飞行时间测量系统基于

脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.

- 有机半导体中的载流子输运

- 电子/空穴迁移率的测量

- 飞行时间法测量(TOF)

- Dark Injection Transient (DIT)

- Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

- 低温测量

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注：对于医疗器械类产品，请先查证核实企业经营资质和医疗器械产品注册证情况。