《nm杂讯X射线紫外光摄谱仪测定标准》建议募集

政策标准随着技术的进步，近年来波长色散X射线荧光光谱的仪器性能已经有了长足的发展，其性能指标也是越来越高，而JJG 810-1993《波长色散X射线荧光光谱仪》国家计量检定规程自1993年2月实施至今已将近30年，标准中的一些技术性能指标都是针对以往的仪器所指定的，不仅不能适应当下仪器的规程，也没有体现溯源性和相关标准物质的信息，难以保证最终测量结果的准确性和有效性。所以对原规程进行适当的修订，使之能适用于当前计量检定的需要势在必行。
 　　受国家市场监管总局的委托，中国计量科学研究院、上海市计量测试技术研究院、江苏天瑞仪器股份有限公司对《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》进行了修订。近日，标准已经编修订完成，目前正面向社会征求意见。
 　　阅读《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》征求意见稿后可知，本标准与JJG 810-1993相比，除编辑性修改外，主要技术变化如下：增加引言作为必备内容；对精密度的技术指标及校准方法进行了修改；对稳定性的技术指标及校准方法进行了修改；增加了灵敏度技术指标及校准方法；对计数线性的技术指标进行了修改。
 　　标准中规定，在精密度校准实验中，应以20次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示，且每次测量都必须改变机械设置条件，包括晶体、计数器、准直器、2θ角度、滤波片和衰减器；在稳定性校准实验中，应根据仪器推荐条件设置管电压，调节管电流，并使仪器的计数率在100kCPS到200kCPS之间，测量时间为40秒，连续测量50次；在灵敏度实验中，仪器在一定条件下，分别对每一块系列不锈钢光谱分析系列标准物质进行PK、SiK和NiK的辐射测定，并对元素的含量与辐射强度进行线性回归，曲线的斜率即为仪器的灵敏度。
 　　为全面衡量波长色散X荧光光谱仪的性能，所校准项目及其结果均应在校准证书中反映，校准结果的总不确定度也应以长期稳定性的测量结果表示，校准结果的表达则按照JJF 1071-2000技术规范的要求，包含有标题、实验室名称和地址、送校单位的名称和地址、校准日期、校准所有的测量标准溯源性及有效性说明、校准环境等方面内容。
 　　仪器部件的改进大大提高了波长色散X射线荧光光谱仪的分析性能，其稳定性、精密度、分辨率等指标有了显著提升，相信本标准的修订，能有效适用于该仪器的校准和规范，继而能促使仪器更好地为人民服务。
 　　更多详情请点击：《波长色散X射线荧光光谱仪校准规范》征求意见稿