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电介质消耗试验中的指引及连接线新方法

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放大字体  缩小字体    发布日期:2021-05-01  来源:仪器网  作者:Mr liao  浏览次数:47
核心提示:介质损耗试验是测量小型电容量电气设备整体绝缘受潮和老化的一项重要试验。介质损耗角正切值只与介质材料本身属性有关,与电气设备的尺寸和绝缘的结构无关,所以对介质损耗的测量主要是指测量介质损耗角正切值。在测量tan 之前,必须测量绝缘电阻,以确定

介质损耗试验是测量小型电容量电气设备整体绝缘受潮和老化的一项重要试验。介质损耗角正切值只与介质材料本身属性有关,与电气设备的尺寸和绝缘的结构无关,所以对介质损耗的测量主要是指测量介质损耗角正切值。在测量tan 之前,必须测量绝缘电阻,以确定套管表面是否需要处理,套管本身的绝缘电阻一般都是很高的。

 

为了消除套管表面受潮对tan 值的影响,曾经采用接屏蔽环的方法。经过几年应用发现,测得的tan 值偏小甚至出现负值。经分析认为,这种虚假偏小或负值都是由于接屏蔽造成的,此方法应该停止使用。介损试验电压不能超过测量仪器的*高工作电压,也不能超过被试品的额定电压。对串级式电压互感器采用反接线测量tan 时,试验电压不应超过250V。

 

对于电力变压器等电容量较大的电气设备,全自动油介质损耗测试仪采用交流电桥进行tan 试验时,应考虑容升效应,试验电压应在高压侧直接测量,还应注意试验变压器的容量是否合适;介质损耗测试仪接地端子必须可靠接地。

 

接线方法:当被测试设备的低压测量端对地绝缘时,可以采用该接线法测量。高压电缆HVx的屏蔽线接被试设备高压端;低压电缆Cx的低压芯线接被试设备低压端L;Cx的低压屏蔽线接被试设备屏蔽端E;当被测试设备的低压端对地无法绝缘时或接地时,可以采用反接线法测量;高压电缆HVx的高压芯线接被试设备高压端;HVx的屏蔽线悬空。

 
 
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