第四届图像对地测量学术年会启用

2017年9月17日，第四届高分辨率对地观测学术年会在武汉大学隆重开幕。来自国内外高校、科研院所、企业单位的7位院士以及1200余名代表、学生参加了会议。北京欧普特科技有限公司一如既往的积极参与了此次行业年度盛会。

本届年会由高分辨率对地观测系统重大专项管理办公室、中国科学院重大科技任务局、中国航天科技集团公司宇航部、中国航天科工集团公司空间工程部、中国测绘学会摄影测量与遥感专业委员会联合主办，由武汉大学、国防科技大学、中国航天科工集团第四研究院共同承办；以“精致为用”为主题，集中体现了高分专项“精确探测、精细处理、精准应用、精益求精”的宗旨与追求，充分代表了我国高分辨率对地观测的发展方向及战略需求。

高分学术年会作为国内高分辨率对地观测领域的年度盛会，汇集了本领域的顶尖专家和行业用户，持续聚焦军民融合、一带一路、成果转化等政策和技术热点，充分研讨高分新思想、新技术、新方法、新发展，有力推动了高分体制机制和技术创新以及产业升级，显著提升了高分专项的品牌效益。

北京欧普特科技有限公司作为二十年光谱仪器行业的开拓者与引领者，始终坚持我们的创业初衷，不断为国内广大客户引进推广国外最先进的光谱类光学仪器与技术，并凭借我司从业多年来所累积的丰富经验以及与各大科研院所多年来真诚合作所建立的良好合作关系，同时设身处地的与我国用户的实际科研与生产需求相结合，自主研发了一系列与我司销售的光谱类仪器配套的软件、系统与解决方案，从而做到更专业系统的满足客户的使用要求、更周到细致的为广大新老提供售前与售后服务。

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