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电子元件器件制造检查筛选,工艺质量检测显微镜

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:892

电子元件器件制造检查筛选,工艺质量检测显微镜

各种筛选用试验项目或手段的作用原理
  根据所加的应力或使用的手段、工具,可靠性筛选大致可分为
以下四类,即:

  1)寿命筛选,包括高温贮存、功率老化等;

  2)环境应力筛选,包括恒定加速(或离心加速)、机械振动和冲
击、温度循环和热冲击等;

  3)密封性筛选,包括粗细检漏、抗潮湿等;

  4)检查筛选,包括显微镜检查(即镜检)、X—光透视、红外扫
描等。

  上述有关筛选试验项目或手段的具体作用原理及其相关条件,

对于拐点不太明显的产品(也即失效率一直继续下降),则可根据事
先估计的累积失效%来选择。

当然,具体应选何种筛选应力或手段及条件,主要应根据实际器件
产品的主要失效模式和失效机理,结合原来的工艺设计、材料、结
构特点以及工艺质量控制来决定,同时还应根据器件产品的可靠性
等级要求,并适当考虑到实际运行过程中可能遇到的最坏使用环境
和条件。 

因此,各个器件制造厂之间所使用的筛选程序或规范很难统一,;
甚至同一厂的产品所选用的筛选条件也不尽相同。同时还应指出,
除了器件制造厂使用外,整机厂或用户同样也可采用。不过大多数
还是通过双方协商,拟订出大家认为满意的筛选程序,或者按照有
关部门根据可靠性等级要求制定的筛选规范,最后作为器件制造厂
整个工艺流程的最后一道工序,由器件制造厂负责进行。  当然若
有可能也可委托给第三者进行。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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