粒度测量显微镜

粒度测量

  显微镜法测量的是颗粒的表观粒度，即颗粒的投影尺寸。对
称性好的球状颗粒(如喷雾粉)或立方体颗粒可直接按长度计
量，但对于非球状的不规则颗粒，如绪论中谈到的，这种直接计
量是不可能的，颗粒的“尺寸”必须考虑到颗粒形状，有不同的
表示方法。

由显微刻度尺
的垂线与颗粒投影轮廓线相切的两条平行线间距离来表示；Mat-
tin直径在粒度分析中是常用的，由它把任意方位的颗粒划分成
两个投影面积大致相等的部分；最大水平截距是指刻度尺水平方
向上，从颗粒一端到另一端间的最大距离；投影面积直径则是指
颗粒投影面积相当的圆的直径。在一些国家，使用投影面积直径
作为制订显微镜法粒度分析的基准
在实际上，粒度测量应用垂直投影法比较简单。就是说，所测
颗粒在视场内向一个方向移动，顺序地无选择性地逐个进行长度
测量，经过长径测长径，经过短径测短径，不转动目镜上显微刻度尺。
比垂直投影法更简单的是线性切割
法，即测量落在显微刻度尺上所有颗粒的被截取部分长度，
  由于颗粒在玻璃片上分布是无定向的，因此只要测量的
颗粒数足够多，测量结果能反映一定的真实性。
粒度分布测量的颗粒数量多少，视测量结果达到稳定为原
则，通常与颗粒形状、大小和分布范围有关，也与采用的测量方
法有关。如对形状较规则的颗粒，测量100个颗粒也就可以了；而
对不规则形状的颗粒或尺寸分布范围比较宽的颗粒，则需要测量
的颗粒数量就应该多些，一般约需200--,2000个。

不同的平均粒度值，在与其它粒度测量方法得到的平均
粒度值进行比较时是有用的。  ‘
  遇到混合颗粒的粒度分析，其它粒度测量方法几乎是无能为
力的，显微镜法是唯一可供测量的方法。由于混合颗粒中每种组
分的粒度组成与其平均粒度、颗粒形状和该组分的密度有关，因
此比起同种组分的颗粒情况，计算时应稍加小心，否则容易出差
错。

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