金相试样显微镜下晶粒尺度的量测方法简介

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金相试样显微镜下晶粒尺度的量测方法简介

比较法
(a)主要用在晶粒尺度如附图所示标准相片晶粒尺度范围内的完全退火材料。轻度冷加工者，亦可适用。
(b)晶粒尺度的测定：将试片显微镜影像或相片与附图75倍之标准相片进行比较。
  标准相片的晶粒尺度是以面积法求之。
(c)使用75倍率之标准，应用其他倍率时，先与附图之标准相片中相对应之相片比较，
  再依表1换算成实际晶粒尺度。例如：使用25倍时，
  相当于标准相片0.070 mm时其实际之晶粒尺度为0.210 mm