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集成电路生产工艺光刻精细加工检测显微镜

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放大字体  缩小字体    发布日期:2019-03-12  来源:仪器信息网  作者:Mr liao  浏览次数:360

集成电路生产工艺光刻精细加工检测显微镜

基本工艺过程
  集成电路的生产过程仅由相对较少的几个基本步骤组成。但这些
步骤可以在整个集成电路的生产中单独使用或几步组合后多次重复
使用。各单独的步骤如下:薄膜沉积;光刻(薄膜图形);表面改性
(氧化,掺杂);浊刻(薄膜去除);
  当集成电路制造于一个晶片上后,晶片被切成很多芯片。接下
来的过程可以用一个术语“封装技术”来定义,并带有下列副标题
:切片(把晶片切成芯片);连接(芯片之间的电接触);装外壳(集
成零件于系统中,封壳)。


  薄膜沉积
  薄膜沉积是最重要的过程,尤其与硅技术相关的过程将在下面
作简要的介绍。薄膜沉积对微型机构的影响将在第4章中洋细介绍

  制作涂层
  通常制作涂层的第一步是用光敏聚合物层覆盖晶片。聚合物层
借助于掩模进行曝光,然后显影。由于曝光改变了聚合物的溶解度
,所以已曝光的区域可以在接下来的显影过程中被一些显影剂选择
性地去除,掩模上所带有的结构信息可转换到聚合物薄膜上。在进
行显影和加热后,聚合物层可以充当模板,粘接到晶片表面上,聚
合物层可以阻止接下来的加工如蚀刻、掺杂或其他处理。因此,这
一聚合物层被称作抗蚀剂或光刻胶。
  化学气相沉积(CVD)
  最通用和最重要的涂层沉积技术是气相化学沉积。这种方法的
变异是低压化学气相沉积LPCVD和离子增强化学气相沉积技术PECVD

  硅片盘可以被加热到1200℃
  CVD方法的基本过程是把热态不稳定的气相化合物冷凝并沉积
到基体上。反应物分子裂解的临界能量既可以由加热的基体也可以
由气体放电的光能或电能供应。

(本文由上海光学仪器厂编辑整理提供, 未经允许禁止复制http://www.sgaaa.com)

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