双层涂布纸板横截面不同的结构特征分析显微镜

双层涂布纸板横截面不同的结构特征分析显微镜

  横截面检查可显示纸张涂层许多不同的结构特征，例如，涂层
厚度的分布。分布的形状可显示出涂料渗入原纸倾向上的差异。这
些差异可通过最大渗透深度和分布扭曲性的比较，很明显地看出。
涂层平均厚度结合已知涂布量，可获知涂层的松厚度。涂层松厚度
与光散射有关并可受涂布配料、施涂情况和整饰(压光)的影响。涂
层顶部的粗糙度可与涂层底部(即原纸顶部)的粗糙度相比较以获取
平滑指数，平滑指数与涂布配料和施涂情况以及原纸本身有关，有
时也可比较多层涂布纸种的层间分层倾向。
  双层涂布纸板横截面的光学显微照片。该图像是使用反射光获
取的。
  双层涂布纸板横截面的光学显微照片意，由于在两层中颜料亮
度特性上的光泽度不同，两个涂层很容易区别。也可看到在原纸板
顶层纤维下面渗透了显著数量的涂布颜料。

  中子散射法
  中子散射法(neutron scttering)可用以推测纸张涂纸层内部
结构方面的信息。适当选择中子能量和切线入射角，有可能确定涂
层中诸如片状高岭土的平均取向(aligment)以及在取向上的变化。
这项技术的很大缺点是全世界范围只有很少量装置在使用。
  X一射线衍射法
  X一射线衍射法(x—ray diffraction)可用以测定高岭土粒子
取向的程度。通过对主要高岭土的衍射高峰形状进行细致而缓慢的
测定，可以获得一个取向指数。但这项技术要求探测器长时间地以
各种角度保持不动，以便充分精确地测量高峰的形状。有些x一射
线衍射仪强调要连续地扫描探测器，因而就不适合于这项技术。此
技术比起中子散射法来的优点是很容易购得合适的衍射仪。

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