光学显微镜以测定涂层厚度或涂层,原纸界面粗糙度

光学显微镜以测定涂层厚度或涂层,原纸界面粗糙度

  物理横截面法
  物理横截面法(physical cross sectioning)提供纸张涂层内
部结构方面可获得的若干最佳信息。但其劳动强度可能较高。一般
是在纸试样中放人硬而有渗透性的介质，诸如环氧胶或丙烯酸，以
尽量减少在切薄片或研磨时的试样变形。放人的介质应根据试样类
型选择。诸如纸板那样具有多层高涂布量的厚试样，要求使用低黏
度慢固化的环氧胶。对其组分可扩散进介质的试样，要求用快速固
化的介质，诸如丙烯酸。
  另外，使用凝固切断技术有可能获得相对高质量的横截面。具
体做法是用液氮凝固试样，然后用刀刃切开。这种横截面一般适合
于电子显微技术。但这种横截面的未抛光粗糙度可能过大，超过了
多数光学显微镜领域的规定深度范围。
  如果使用电子扫描显微技术显示试样图像，常使用固体块。辐
射电子显微镜要求使用薄截面。光学显微镜可用薄截面或固体块。
但如果使用光学荧光成像，必须用薄截面以避免来自试样主体内部
的荧光。光学显微镜具有足够的分辨率以测定涂层厚度或涂层顶部
(或涂层／原纸界面)的粗糙度。光学荧光成像技术可用以测量荧光
渗透液的渗透性，染色法可用以测量诸如淀粉的分布状况。电子显
微技术给予较高的分辨率，所以多层涂布有时也可用颜料粒子规格
的不同进行分辨。例如，也可实行元素测位法(elemental mapping
)以确定锇示踪胶乳的位置所在。

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